山西桌面電鏡的四種像差

　　山西桌面電鏡作為一種有效的顯微結構分析工具，可以對各種材料進行多種形式的表面的觀察與分析。它具有分辨率高、景深長、成像富有立體感等優點。利用掃描電鏡的圖像研究法分析顯微結構，其內容豐富、方法直觀。隨著現代生活對新型材料的需求不斷增長，掃描電鏡測試技術在新型材料學科領域中的應用也日益廣泛。
　　山西桌面電鏡的像差主要有四種：球差、畸變、像散和色差。電子束與固體物之間的相互作用：
　?。?）二次電子：樣品原子的外層電子受入射電子激以發后，獲得足夠能量而逸出樣品表面的電子，習慣上把能量低于50ev的信號電子統稱為二次電子。能量范圍：0-50ev；來源：樣品表面。
　　二次電子像的用途：
　　反映樣品的表面形貌和表面元素組成，研究半導體材料和磁材料的特性。
　?。?）背散射電子：部分入射電子在樣品中受到大角度散射后被反方向彈出的電子，習慣上把能量大于50ev的信號電子統稱為背散射電子。來源：入射電子。
　　背散射電子像的用途：分析樣品的元素組成、分析樣品的表面形貌、研究材料的結晶學特性和磁特性。
　?。?）透射電子：當入射電子的能量足夠大或樣品足夠薄時，有部分電子可以穿過樣品而成為透射電子。
　?。?）特征X-射線：樣品表面的內層電子逸出，在內層電子層上出現空穴，外層電子躍遷填補空穴，并伴隨能量釋放，從而發射出X-射線，該種X-射線的能量與原子中確定能級間的能量有關，因而叫做特征X-射線。特征X-射線適用于樣品的元素分析。